1樓：暢聞凝
控制限是用製程資料計算出來的， 不同的資料得出的控制上下限是不一樣。如果是xbar-r均值極差圖，那麼控制上下限的公式如下：
uclxbar=x``+a2*r` x``是全體資料的均值，a2是常數，r`是極差平均值
lclxbar=x``-a2*r`
控制圖p圖里計算後呈現出來的都是管制上下限，而控制限和規格限具有包含、相交和背離的三種情況。
擴充套件資料：
簡介分類
spc控制圖是對過程質量加以測定、記錄從而進行控制管理的一種用科學方法設計的圖。2023年由沃特·休哈特（walter shewhart）博士率先提出。
其指出:每乙個方法都存在著變異,都受到時間和空間的影響,即使在理想的條件下獲得的一組分析結果,也會存在一定的隨機誤差。
但當某乙個結果超出了隨機誤差的允許範圍時,運用數理統計的方法,可以判斷這個結果是異常的、不足信的。
問世數十年來，質量控制圖在眾多現代化工廠中得到了普遍應用，並憑藉其強大的分析功能，為工廠帶來豐厚的實時收益。最初的控制圖分為計量型與計數型兩大類，包含七種基本圖表。
計量型控制圖包括：
ix-mr（單值移動極差圖）
xbar-r（均值極差圖）
xbar-s（均值標準差圖）
計數型控制圖包括：
p（用於可變樣本量的不合格品率）
np（用於固定樣本量的不合格品數）
u（用於可變樣本量的單位缺陷數）
c（用於固定樣本量的缺陷數）
2樓：
控制圖p圖里計算後呈現出來的都是管制上下限，而控制限和規格限具有包含、相交和背離的三種情況，如果控制上下限包含了規格上下限，說明你的過程能力不足，需要進一步的改進，以上建議僅供參考，如果需要再細緻的溝通，可在知道上聯絡！
3樓：匿名使用者
控制圖p圖里的上下限是規格上下限還是管制上下限呢？是管制上下限！
控制上下限可以超出規格上下限嗎？管制上下限肯定比規格上下限要求嚴格，即控制限更窄！不然做spc批用？
spc中規格上限和下限怎麼確定
4樓：情感南南
規格上限及下限通常是根據客戶要求來定的（產品的規格），然後實際生產時，收集資料計算出控制限，當然前提是製程是穩定的，也就是通常講的資料符合正態分佈。
統計過程控制（statistical process control）是一種借助數理統計方法的過程控制工具。它對生產過程進行分析評價，根據反饋資訊及時發現系統性因素出現的徵兆，並採取措施消除其影響，使過程維持在僅受隨機性因素影響的受控狀態，以達到控制質量的目的。
由於過程波動具有統計規律性，當過程受控時，過程特性一般服從穩定的隨機分布；而失控時，過程分布將發生改變。spc正是利用過程波動的統計規律性對過程進行分析控制。因而，它強調過程在受控和有能力的狀態下執行，從而使產品和服務穩定地滿足顧客的要求。
實施spc的過程一般分為兩大步驟：首先用spc工具對過程進行分析，如繪製分析用控制圖等；根據分析結果採取必要措施：可能需要消除過程中的系統性因素，也可能需要管理層的介入來減小過程的隨機波動以滿足過程能力的需求。
第二步則是用控制圖對過程進行監控。
5樓：匿名使用者
規格上限與下限通常由客戶給定。如果客戶沒有給出，就以行業標準為準或以實驗資料為準！
做spc控制圖的時候，究竟該用什麼公式確定上下限？
6樓：匿名使用者
第一種是移動極差方法，一種對於3sigma值的估算公式，用於樣本量比較小的計算，a2為常數，與樣本數量有關，通過查表得來。第二種理論上是基於已知所有樣本的真實sigma的計算公式，用於樣本量比較大的計算，3σ即所有樣本的三倍標準差。
控制圖上下控制界限的怎麼確定？
7樓：情感新港灣老師
控制圖上下控制界限通常設定在±3標準差的位置。
圖上有三條平行於橫軸的直線：中心線（cl，central line）、上控制線（ucl，upper control line）和下控制線（lcl，lower control line），並有按時間順序抽取的樣本統計量數值的描點序列。
ucl、cl、lcl統稱為控制線（control line），通常控制界限設定在±3標準差的位置。中心線是所控制的統計量的平均值，上下控制界限與中心線相距數倍標準差。若控制圖中的描點落在ucl與lcl之外或描點在ucl和lcl之間的排列不隨機，則表明過程異常。
根據統計資料的型別不同，控制圖可分為：計量控制圖和計數控制圖（包括計件控制圖和計點控制圖）。它們分別適用於不同的生產過程。每類又可細分為具體的控制圖，最初主要包含七種基本圖表。
一、計量型控制圖包括：
1、 ix-mr（單值移動極差圖）
2、 xbar-r（均值極差圖）
3 、xbar-s（均值標準差圖）
二、計數型控制圖包括：
1、 p（用於可變樣本量的不合格品率）
2、 np（用於固定樣本量的不合格品數）
3、 u（用於可變樣本量的單位缺陷數）
4、c（用於固定樣本量的缺陷數）
利用樣本的平均值及極差r推斷總體的μ和σ時，由於總體構成的不均勻性以及抽樣誤差的存在，及r的變化同μ及σ的變化並不完全一樣，即使在工序處於穩定狀態下，μ及σ本身並無異常變化，但從工序中抽取樣本的及r也是有所變化的也就是說，及r 都是隨機變數，都有其特定的概率分布。
它們各自的概率分布與總體分布既有一定的內在聯絡，又與總體分布不完全相同。在過程控制中，雖然通常依據一次抽樣的結果進行一次統計推斷，但由此所得出的結論卻是建立在大量觀測結果所遵循的統計規律的基礎上的，是依樣本統計量的概率分布來描述總體概率分布過程的。
擴充套件資料：
為了方便記憶，下面總結了控制圖判異的八個準則：
1、準則1：1個點子落在a區以外（點子越出控制界限）；
2、準則2：連續9點落在中心線同一側；
3、準則3：連續6點遞增或遞減；
4、準則4：連續14點中相鄰點子總是上下交替；
5、準則5：連續3點中有2點落在中心線同一側b區以外；
6、準則6：連續5點中有4點子落在中心線同一側c區以外；
7、準則7：連續15點落在中心線同兩側c區之內；
8、準則8：連續8點落在中心線兩側且無1點在c區中。
請問管制圖上限和下限的計算公式是什麼？
8樓：神級人氏
x管制:中心線(cl)=x管制上限(ucl)=x+a2 r管制下限(lcl)=x-a2 rr管制:中心(cl)=r管制上限(ucl)=d4 r管制下限(ucl)=d3。
管制圖指用來判斷流程是否穩定，有無機會或特殊變異原因的統計分析管理工具，主要是借由實際品質特性與根據過去經驗的管制界限來作比較，按時間先後順序來判別產品品質是否安定的一種圖形，並研究其變異**以監視、控制和改善流程。
spc控制圖中的pnpuc圖的區別
您所說的四種控制圖都屬於計數型控制圖。p 是不合格率，結果是百分比 np 是不合格的工件數目，結果是數值 c 是樣本內的缺陷總數目，結果是數值 u 是單位產品上的缺陷數目，結果是數值 覺得之前回答的人可能還沒有樓主思路清晰。個人認為 p和np圖主要關注的是產品的質量狀態，實際點說就是我每次都生產n件...
特殊過程特性如何採用SPC技術？破壞性試驗測量系統如何做MS
1 針對硬度的spc比較好做，過程穩定後每小時抽2件，測量硬度，輸入spc控制表 相對的msa比較好做，10個零件 零件要有差異性，最好有2件硬度是極限或超差一點點 測的位置畫好，3個人每人測量3次，90個測量值，輸入msa 從測量資料的重複性和再現性來判定這個測量過程是否符合要求。2 熔煉過程和熱...
如何控制藻類，如何控制藻類？ 50
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