1樓：匿名使用者
計算cpk的前提是過程穩定，所以你必須要使用spc進行過程穩定的判斷，如果均值，極差不好很可能是過程不穩，這時cpk就沒有什麼意義了。
如果過程穩定，cpk有很好，就需要看看出現極差的點，有什麼規律，找到規律進行改進。
以及降低均值的辦法。
2樓：匿名使用者
你的cpk很好是因為規格控制線較寬，也就是你說的規格允許公差大，而實際上你們的工藝能力可以將產品變異控制在遠比允許公差小的範圍內。所以算上去cpk很高，我相信遠高於2。
這種情況也就是我們說的能力過剩，此時如果你還一定要用均值極差圖來控制工藝也是屬於浪費。因為即使xbarr圖表現不好，而事實上產品質量是合格的。
我有兩個方面的建議：
工藝能力過剩，可以考慮將該段工藝用來生產要求更高的產品，將這個產品挪到工藝能力較低的區域生產，可以為公司節省質量成本。
沒有必要使用xbarr圖來控制，控制線是通過統計計算出來的，是不可以人工變大變小的。可以考慮改用p chart來管控，在工藝能力遠超需求的情況下，對良率進行監測就能滿足要求了。
用minitab分析出來的xbar-r控制圖不好但是過程能力cpk\ppk很好，這是為什麼？求解。。。
3樓：匿名使用者
我認為這是有可能的，spc主要是看你的資料是否的穩定，邊界是通過資料計算的，cpk的邊界實際上是你自己輸入的，當cpk的邊界比spc的邊界大的話自然spc比較差cpk比較好。
需要注意的是cpk的基礎就是過程穩定，如果spc不穩定，實際上cpk米有太大的意義
4樓：匿名使用者
顯然用途不同，管控圖是用來判斷系統是否平穩，控制圖點大量出界和其他判異現象，說明系統變異了，但變異有大小啊！小變異控制圖不敏感，大變異是很明顯的
cpk ppk的前提是系統穩定，反映的是不合格率，它有兩個引數確定，一個是系統方差 一個是標準限， 方差越小 標準限越寬，顯然這cpk ppk 都會變大 不合格率降低！
當你覺得spc圖不正常時，說明有變異傾向，但此時的不合格率較低，所以ppk cpk 較好 但變異惡化時 顯然 ppk cpk 也會惡化
用minitab計算非正態資料的cpk時，cpk資料顯示為**，**出了問題？
5樓：明含之
資料排列為 應該選擇 “單列(c)",“子組大小（z）”可填入 ”1“或實際的分組。
6樓：星合瑞
可以先用cox－box轉換轉換成正態etyd然後再算
7樓：平子0真子
填寫規格上限或者下限時，不要勾選後面的邊界
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