1樓：匿名使用者
波長掃瞄的原理就是在乙個波長範圍內，對樣品進行測量，反映的是樣品在不同波長下的吸光度值。
操作時需設定測量方式，即測定的是t還是a，然後是測量範圍，樣品的測定範圍，然後是掃瞄波長，設定樣品需要掃瞄的波長範圍是從哪兒到哪兒。
其次有掃瞄間隔，掃瞄間隔指的是儀器每隔多少奈米對樣品進行測量，比如1nm為掃瞄間隔，則儀器從設定的起始波長開始，每隔1nm對樣品進行取值，然後將各點連起來就是所需的影象。
掃瞄速度有快中慢三種，這個可以根據所需設定，當然越慢越好。剩下的有掃瞄次數，指的是對樣品進行1次或多次掃瞄。
掃瞄後圖象有重疊或覆蓋兩種方式，當掃瞄次數為2次以上時，覆蓋則只顯示最後一次掃瞄的影象，重疊則每次掃瞄的圖象都在圖象上顯示。
設定好後，將參比放在光路上進行基線校正，就是在所測的波長範圍內每個波長上進行調滿度，然後拉到樣品上開始測量就好了。
2樓：
要先看你的儀器有沒有定性掃瞄功能了，如果沒有就無法實現全波長掃瞄了。
有些儀器通過購買配套的軟體也可以實現全波長掃瞄的。
具體操作每個廠家都不一樣，但基本需要完成以下內容：
1、設定掃瞄波長的範圍：一般在190-1100nm之間。
2、設定掃瞄模式：一般選擇abs(吸光度）。
3、設定掃瞄間距：即取樣間距，一般選擇1nm。
4、掃瞄基線：即選擇空白校準。
5、掃瞄樣品：放上待測樣品，執行掃瞄，即得到全波長的樣品光譜圖。
6、檢視：一般檢視最大吸收波長位置。
3樓：
先用兩個參比掃基線，然後再把你要測的樣品全掃。
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