1樓：匿名使用者
可以檢測和只能檢測是完全不同的兩個概念 這個和牛頓圈的干涉檢測方法差不多 看圖的時候就像等高線地圖一樣 一目了然 但是1mm的凹凸缺陷將會引起上千圈條紋 累死你也數不清 不方便使用。
2樓：匿名使用者
他的主要意思這種方法很nb，連不到1/4波長的缺陷都能測出來。
缺陷如果很大的話你可以知道它的缺陷很大。但是可能由於跨級的條紋重合或者太不平了根本出不了條紋，你不知道缺陷到底大到什麼程度。
3樓：匿名使用者
超過四分之一波長，幾條條紋會重疊在一起，不易分辨。
4樓：
純屬波的干涉問題，光在工件兩面反射回來的光波進行干涉，不同厚度的話會產生不同的圖樣。
當超過四分之一時，可能中間幾個總的波間距不能被發現（可以想象一下水波），有點說不清楚，呵呵，你在仔細看看書上的圖，再想象一下水波的原理。
等我組織好語言再來解釋一下，希望你到時已經懂了。
5樓：心隨流水到天涯
超過四分之一波長 條紋的彎曲就無法觀察了。
6樓：網友
超過四分之一波長，干涉圖樣出現重疊，無法分辨。
如何利用空氣劈尖干涉檢查工件表面的平整度？
7樓：教育小百科是我
對於干涉條紋向左彎曲的部分，意味著原本應該出現某一級干涉條紋的地方已經被更高階次的干涉條紋所取代。而干涉條紋的級次越高，對應處的薄膜厚度越大，所以平板上該處是下凹的。注此處劈尖開口向右。
兩束反射光為斜面反射光和工件反射光，加入工件平整的話，以最左端為x軸沿著向右方向相同距離所產生的高度差是一樣的，會觀察到等間距的平行干涉條紋，若是不平整有凹陷的話條文會提前出現，有凸起的話條文會滯後出現，發生變化的條文只是部分。
8樓：haimingok水瓶
兩束反射光為斜面反射光和工件反射光，加入工件平整的話，以最左端為x軸沿著向右方向相同距離所產生的高度差是一樣的，會觀察到等間距的平行干涉條紋，若是不平整有凹陷的話條文會提前出現，有凸起的話條文會滯後出現，發生變化的條文只是部分不。
用劈尖干涉法可檢測工件表面缺陷。
9樓：匿名使用者
c平玻璃在上，條紋是等深度線，突出乙個條紋，即光程差為乙個波長，考慮光線往返，空間的深度是半個波長。
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